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>基于微懸臂的掃描近場光學顯微鏡，操作簡單，可提供AFM的功能；
>探針結構堅固；
>高敏感度的干涉偏轉探測方法，可進行高質量的AFM成像；
>優化的反射模式

可進行如下的測量：

>自動的高分辨率形貌成像和光學反射測量；
>復雜納米結構、單分子和單量子點的研究；
>材料科學研究，如陶瓷、聚合物、添加劑和合金等

德***Attocube Systems AG公司成立于2002年，總部設在慕尼黑。作為納米科學領域年輕的儀器供應商，Attocube Systems AG以其掌握的納米精度定位專利成果和強大的技術實力，在短短的幾年中研制開發了低溫物性測量系統、nanoSCOPY和nanoPositioning等系列產品，深受用戶贊譽。自成立以來，Attocube Systems AG已經獲得了許多榮譽，包括Winner of the biannual Bavarian Innovation Award 2006和Finalist for the 27th Innovation Award of the German Ecomomy 2007等。

Attocube Systems AG公司在用戶的積極響應和支持下，不斷發展新的高精度位移設備和低溫掃描顯微鏡系統。讓用戶滿意是公司的根本宗旨，公司目標是為科學***提供出跨科研領域的設備，以及開發出從科學研究到工業應用的新設備。
技術參數Attocube公司推出了適應于極低溫、強磁場、高真空環境中的四大類掃描探針顯微鏡，包括共聚焦顯微鏡CFM、掃描近場光學顯微鏡SNOM、原子力顯微鏡AFM和掃描隧道顯微鏡STM。同時，為了更好的滿足用戶的需要，Attocube公司還設計制造了顯微鏡在應用過程中所需的配件，如SNOM光纖探針等。

為滿足科學***們的不同要求，Attocube依據針尖-樣品間距控制與針尖結構的不同，設計推出了三種掃描近場光學顯微鏡。所有的SNOM都兼容高真空和高磁場環境。