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 廣泛的測(cè)量范圍 - 四點(diǎn)探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測(cè)量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測(cè)量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。

 非破壞性測(cè)試 - 設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了精密樣品的測(cè)量，四點(diǎn)探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時(shí)仍能提供良好的電接觸。

 節(jié)省空間的設(shè)計(jì) - 通過(guò)垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c(diǎn)探頭的占地面積降至zui低（總臺(tái)面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實(shí)驗(yàn)室中使用。

 易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開(kāi)始使用！ 直觀的界面和清潔的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化了薄膜電阻的測(cè)量。

 快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測(cè)量和計(jì)算，從而使材料表征變得毫不費(fèi)力。

 要忘記保存您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) - 用于測(cè)量的設(shè)置會(huì)與數(shù)據(jù)***起保存，從而輕松查看實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)信息。 此外，這些設(shè)置文件可以通過(guò)相同的軟件加載，加快重復(fù)測(cè)量和材料表征。 用更少的時(shí)間重復(fù)測(cè)量，您的研究成果可以顯著增加。

技術(shù)參數(shù)：