太赫茲衰減全反射棱鏡 太赫茲棱鏡 高阻硅棱鏡 THz ATR Elements
價 格：詢價
產 地：俄羅斯更新時間：2020-10-30 13:53
品 牌：屹持光電技術型 號：THz ATR Elements
狀 態(tài)：正常點擊量：2696
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太赫茲衰減全反射棱鏡 太赫茲棱鏡 高阻硅棱鏡 THz ATR Elements
產片簡介
Tydex可以提供以下規(guī)格的太赫茲棱鏡/高阻硅棱鏡：
傳統(tǒng)（直角）太赫茲棱鏡/高阻硅棱鏡。這類產品主要用于光學設計
衰減全反射（ATR）太赫茲棱鏡/高阻硅棱鏡。這類棱鏡用于分析那些難以用常規(guī)透射方法來分析的材料。
產品參數(shù)
由于某些特殊材料存在菲涅爾反射和對光的強烈吸收，用吸收光譜來分析此類材料幾乎是不可能的。對于這種情況，研究這類吸收材料最適用的方法就是衰減全反射。這個方法基于此效應：光在光密介質n0和吸收介質（有較小的折射率n）界面，以大于全反射臨界角θc=arcsin(n/n0)入射時，反射效率會因為倏逝波與被測材料表面等離子體相耦合而衰減。此反射效率依賴于入射角、偏振方向和被測材料的折射率。正確的選擇棱鏡參數(shù)（尤其是棱鏡角度）會獲得好的ATR光譜。在THz光譜內使用衰減全內反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:沒引入2π)光譜范圍內的吸收效率。
太赫茲棱鏡/高阻硅棱鏡規(guī)格參數(shù)
材料 | 高阻硅 |
尺寸公差，mm | ±0.2 |
角度公差，acr.min | ±30 |
表面平整度，scr（斑）/dig（坑） | 80/50 |
拋光面的表面平整度，Ra | 2.5 |
表面精確度，mm | ±0.01相對于理想平面 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
