Nano-ind 納米壓痕測試儀
價 格：詢價
產 地：美國更新時間：2020-10-26 15:19
品 牌：Nanovea型 號：Nano-ind
狀 態：正常點擊量：1578
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| MEMS、半導體、光學部件、醫學工程、觸摸屏及涂層、汽車行業、新材料研發、建筑裝潢涂層 |
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| 技術參數：載荷范圍400mN (800mN, 1600mN可選)載荷分辨率0.03μN深度范圍250μm 深度分辨率0.003nm 熱飄逸<0.05nm/s ***大摩擦力 400mN Sinus模式分析(DMA)20Hz |
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| 其他信息：主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過壓入載荷大小與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。 產品特點： 光學顯微鏡自動觀察獨特的熱漂移控制技術可測量硬度、楊氏模量、壓入深度-載荷的曲線圖、彈塑性、蠕變性能等力學參數適時測量載荷大小采用獨立的載荷加載系統與高分辨率的電容深度傳感器快速的壓電陶瓷驅動的載荷反饋系統雙標準校正：熔融石英與藍寶石也可以進行劃痕測試納米壓痕測試模塊可以與緊湊型工作臺或者標準型工作臺配用：符合ISO14577、ASTM E2546 |
滬公網安備31011502016460號
