X-Strata980熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀
價 格：詢價
產 地：英國更新時間：2020-10-22 13:51
品 牌：Oxford Instruments型 號：X-Strata980
狀 態：正常點擊量：2534
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這款***新研發的產品X-Strata980運用X 熒光原理實現痕量元素分析及鍍層厚度測量，結合大功率X射線光管和高分辨率探測器，檢測下限達到PPM精度，并具有超強的分析模型。牛津儀器新產品研發中心總監Dr. Andy Ellis表示，這款新產品的發布標志著牛津儀器已經成為全球唯***的能提供包括便攜式、臺式（微聚焦、塊狀分析）XRF分析儀器的供應商，能夠為客戶提供針對RoHS篩選的完整解決方案。
產品參數
X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙門使樣品更易放入。
100瓦X射線管
25mm2PIN 探測器
多準直器配置
掃描分析及元素分布成像功能
靈活運用多種分析模型
清晰顯示樣品合格/不合格
超大樣品艙
同時分析元素含量和鍍層厚度
滬公網安備31011502016460號
