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商品編號(hào)：21439

美國必達(dá)泰克光學(xué)反射率儀

價(jià) 格：詢價(jià)

產(chǎn) 地：美國更新時(shí)間：2020-10-21 17:03

品牌：必達(dá)泰克型號(hào)：

狀態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2430

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1. 512元線性PDA陣列光譜儀，16位AD，USB2.0接口
2. 特殊半透鏡專利技術(shù)，能高效收集試樣表面反射光，避免底部反射光影響，提高測(cè)試精度
3. ***大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率
4. 外置式探頭可選，更方便的用于大面積、高曲率、現(xiàn)場(chǎng)特殊環(huán)境監(jiān)測(cè)

產(chǎn)品參數(shù)

檢測(cè)范圍：350-1050nm
光斑尺寸：50um
樣品曲率半徑：-1R～-∞ ，：+1R～+∞
重現(xiàn)性：±0.01%
光學(xué)分辨率：3.5nm
測(cè)量時(shí)間：3-65535ms

產(chǎn)品介紹

精確檢測(cè)光學(xué)鏡片等表面鍍膜物質(zhì)反射率的理想選擇。內(nèi)建光源，專用三維樣品臺(tái)，顯微聚焦功能和精確頂點(diǎn)定位機(jī)制。標(biāo)準(zhǔn)USB2.0/1.1接口，專用反射率檢測(cè)軟件
既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測(cè)，又有外接探頭選項(xiàng)可以現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)大面積高曲率等特殊界面。

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產(chǎn)品特點(diǎn)

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品介紹

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