X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9100M型
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-10-29 16:19
品 牌：SII型 號：SFT9100M型
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特點
操作非常簡單。
運用激光焦點的功能，簡單的調整位置。
針對有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。
搭載焦點切換機構，可以對高的樣品的低部分進行測定。(任意選擇)
采用可以測定大型打印基板的狹小間隙機構。
產品參數
| 型號SFT9100系列射線源空冷式小型X射線管準直器2種類型 0.1、0.2mmφ計算機CPU(AT互換電腦)、HDD、FDD、MS-Windows?過濾裝置數字過濾裝置樣品平臺臺面尺寸：220（W）x 150（D）mmZ移動量：50mm(使用spacer可達到150mm)
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產品介紹
產品介紹:
利用熒光X射線的鍍膜厚度測量儀。可以測定構造部分等有凹凸的樣品和打印基板等大面積的樣品。配合采用激光射線的Z軸方向的焦點，發揮測定值的再現性。而且實現了價格低。
滬公網安備31011502016460號
