F10-HC 薄膜厚度測量儀
價 格：詢價
產(chǎn) 地：更新時間：2020-12-15 10:22
品 牌：Filmetrics型 號： F10-HC
狀 態(tài)：正常點擊量：2455
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產(chǎn)品介紹
F10-HC 薄膜厚度測量儀
極具有價格優(yōu)勢的先進薄膜測量系統(tǒng)
以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件特有的先進模擬演算法的專利設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。
前所未見的簡易操作界面
現(xiàn)在，具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用，這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁)，并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結(jié)果是否有效，并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。
不需要手動基準(zhǔn)校正
F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。
背面反射干擾
背面反射干擾對厚度測量而言是***個光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn)，具有F10-HC系統(tǒng)的獨特接觸式探頭能將背面反射干擾的影響***小化，使用者能以較高的jing準(zhǔn)度來測量涂層厚度。
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
? 桌面式薄膜厚度測量的全球
? 24小時電話，E-mail和在線支持
? 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件
附 加 特 性
? 嵌入式在線診斷方式
? 免費離線分析軟件
? 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果
產(chǎn)品優(yōu)勢
F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
