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基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進全新的設計：

• 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的*強大的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
• 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
• 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現對樣品的精確對準。
• 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統測量再現性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
• 全新的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
• 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
• 內置PC用戶界面　

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