XY-MR/XY-MRT（透反）正置金相顯微鏡
CSIS無限遠色差校正光學系統提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構；
操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、
半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域
■ 光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辨率更高，觀察更舒適
■ 目鏡及物鏡：高眼點、超寬視野平場目鏡，PL10x/22mm，提供更加寬闊平坦的觀察空間并可加裝用于測量的各類測微尺，無限遠平場消色差超長工作距專業金相物鏡，無蓋玻片設計
■ 觀察筒：鉸鏈式雙目/三目/數碼***體化觀察筒，視度可調節，30°傾斜，可進行攝影攝像，對觀察圖像進行采集和保存，配置電腦和專業軟件實現圖像分析
■ 五孔物鏡轉換器
■ 物鏡：無限遠長工作距離平場消色差金相物鏡5X、10X、 20X、半復消色差物鏡50X
■明場、偏光觀察
■視場光闌、孔徑光闌可調
■藍色、綠色濾色片
■ 調焦機構：低手位粗微調同軸調焦機構，粗調行程28mm，微調精度0.002mm，帶有平臺位置上下調節機構，樣品高度可達50mm（反射）、30mm（透反射），帶有粗調松緊調節裝置和隨機限位裝置
■ 照明系統：反射照明器帶斜照明裝置，可以再觀察細微組織結構時產生浮雕立體的特殊觀察效果，自適應90V-240V寬電壓，單顆3WLED高亮度冷光源。透射光6V30W鹵素燈照明
■選購;偏光裝置
100X工作距離平場復消色差物鏡
滬公網安備31011502016460號
