ZEISS Sigma 500場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:03
品 牌：型 號(hào)：Sigma 500
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2265
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Sigma 500
用于高品質(zhì)成像與高***分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測(cè)，4步工作流程，高***的分析性能
將高***的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 500 裝配有***流的背散射探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得***可重復(fù)的分析結(jié)果。
基于成熟的 Gemini 技術(shù)
Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率。通過二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新***代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。
使用BSD4或YAG檢測(cè)器分析成分。
高***分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma ***流的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
在***半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
