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掃描電子顯微鏡（SEM）
泰思肯集成礦物分析儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:06
品 牌：型 號：TIMA-X（GM）
狀 態：正常點擊量：1964
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TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是***款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質、工藝優化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術是基于***個完全集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的***體化技術提供了前所未有的數據采集速度，進而得到快速、準確和可靠的結果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶要求定制。
軟件標配：
l 分析&測量
l 柱狀圖
l 圖像處理
l 3維掃描
l 硬度測量
l 多圖像校準
l 對象區域
l 定時關機
l 公差測量
l 定位
l Live Video
l EasySEMTM
軟件選配：
根據實際配置和要求
配件：
滬公網安備31011502016460號
