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掃描探針顯微鏡（SPM）
電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:11
品 牌：型 號：PSM
狀 態：正常點擊量：1912
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電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
儀器簡介：
電導率-賽貝克系數掃描探針顯微鏡技術由德*** Panco 公司和德***宇航中心公共研制開發，可以測量樣品的電導率和賽貝克系統的空間分布狀況，是研究熱電材料的*新利器。
技術參數：
位置單向定位精度：1 μm
位置雙向定位精度：3 μm 掃描區域：150 mm x 50 mm
局部測量精度：10 μm(與該區域的熱傳導有關)
信號測量精度：100 nV
測量結果重復性：優于3%
誤差
塞貝克系數：< 3% (半導體)
< 5% (金屬)
電導率：< 5% (半導體)
< 8% (金屬)
測量速度：測量***個點的時間小于4秒 | 
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主要特點：
應用領域
1、熱電材料，超導材料，燃料電池，導電陶瓷以及半導體材料的均勻度測量
2、測量功能梯度材料的梯度
3、觀察功能梯度材料的梯度效應
4、監測 NTC/PTC 材料的電阻漂移
5、導電固體中的傳導損耗
6、陰極材料的電導率損耗
7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化
8、樣品的質量監控
系統組成部分
1、三矢量軸定位平臺及其控制器
2、熱量克測量的測溫探針
3、接觸探測系統
4、模擬多路器
5、數字電壓表
6、鎖相放大器
7、攝像探頭
8、帶有專用控制軟件和 GPIB 總線的計算機
9、樣品架
全球部分用戶名單：
Beijing University of Technology
Corning Company
Korea Research Institute of Standards and Science
Shanghai Institute of Ceramics, CAS
Germany Air Force Research Lab
Simens Company
Gwangju Institute of Science and Technology
Hamburg University
Munich University
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