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原子力顯微鏡（AFM）
納米檢測顯微鏡 LEXT OLS4500
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:18
品 牌：型 號：
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LEXT OLS4500是結合了傳統光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能為***體的革新機，從而可以實現對觀測對象從幾十倍到百萬倍的連續放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察，以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。
通過在多種顯微鏡和觀察模式間自由切換，LEXT OLS4500可以輕松實現從毫米到納米的超大范圍觀察和測量，這使得觀察對象的定位變得***快捷，在大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針，并且不用擔心觀測目標的丟失。另外，這種***體的革新設計可以實現對同***對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結果分析解釋的準確性和可信度！
l 光學顯微鏡：
裝有倍率不同的四種物鏡，集合了明視野觀察（BF）、微分干涉觀察（DIC）、簡易偏振光觀察及HDR（高動態范圍）觀察等多種功能。
l 激光顯微鏡：
采用短波長405nm的激光光源和高數值孔徑的專用物鏡、以及獨特的共焦光學系統，實現了優異的平面分辨率。在激光微分干涉模式中還可以實現觀察納米***的微小凹凸。
l 掃描探針顯微鏡：
專業的針尖對齊夾具避免了在儀器上調節激光光斑位置的繁瑣；
搭載導航功能，可以在已掃圖像中任意制定特定區域進***步掃描觀測；
多種觀察模式滿足對樣品表面形貌和物性的觀察分析。
滬公網安備31011502016460號
