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場發(fā)射掃描電鏡
手動探針臺 四寸探針臺 測試探針臺 實驗室探針臺
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:19
品 牌：型 號：pw-400
狀 態(tài)：正常點擊量：2144
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聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經過外界靜電擊穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而***的定位到器件的漏電點。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價比,并憑借良好的售后服務,迅速占領市場
設備交流微信13488683602
光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，必不可少的分析工具。器件在設計、生產制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經過外界靜電擊穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而***的定位到器件的漏電點。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價比,并憑借良好的售后服務,迅速占領市場
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