CMOS平板探測器
價 格:詢價
產 地:更新時間:2021-08-09 09:37
品 牌:其他型 號:CMOS X射線相機
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CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量測試范圍為不超過220KV,根據客戶要求,能量可到400KV,采用Camera Link接口,全分辨率下可到65幀/秒
產品參數
有效面積(mm) | 114.9x64.6 |
分辨率 | 1536x864 |
像素尺寸(μm) | 74.8/149.6/299.2;依賴于不同的binning |
MTF@6lp/mm | 大于20%;(150μm HR CsI without binning) |
DQE | ~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al) |
Binning | 1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4 |
工作模式 | 提供低噪聲及高動態范圍兩種 |
動態范圍 | 6400-2400;依賴于不同的工作模式及binning |
幀速 | 32-191;依賴于不同的binning及數據接口 |
ADC分辨率 | 14位 |
計算機接口 | Camera Link或千兆以太網 |
外形尺寸(mm) | 241 x 150 x 42 |
重量(kg) | 1.9 |